Ручная зондовая станция серии Semishare FA-8 для анализа отказов

По запросу
Производитель
Semishare
Страна
Китай
Габариты
Д: 960 мм*Ш: 850 мм*В: 1500 мм
Масса (около)
260 кг
Все характеристики
Ручные зондовые станции серии SEMISHARE FA-8 представляют собой разновидность измерительного
оборудования, специально разработанного для анализа отказов интегральных микросхем в условиях
лаборатории.
Анализ на отказ можно производить как при комнатной температуре, так и при высоких или низких
температурах исследуемого радиочастотного устройства. Также доступно исследование отказов различных
материалов и проводить измерение характеристик IV/CV устройств.
Зондовые станции серии SEMISHARE FA-8 обладают превосходной механической системой, стабильной
конструкцией, эргономичностью и имеют возможности для модернизации.
SEMISHARE FA-8 может быть широко использовано в области производства для исследований интегральных
микросхем, светодиодов, жидкокристаллических дисплеев, солнечных элементов, различных чипов и в
других отраслях радиоэлектронной промышленности.
Т.о. многофункциональная ручная зондовая станция SEMISHARE FA-8 удовлетворит потребностям самых
требовательных клиентов в сфере анализа изделий на отказ.
Область применений
Применение в соответствии с тестируемыми образцами:
Анализ отказов IC в условиях изменяющейся температуры
Анализ отказов LCD в условиях изменяющейся температуры
Анализ отказов OLED в условиях изменяющейся температуры
Использование в зависимости от области применения:
Внутренние цепи интегральных микросхем
Тестирование PAD интегральных микросхем
Модификация внутренних цепей
Удаление слоя
Производитель
Semishare
Торговая марка
SEMISHARE
Модель
FA-8
Диапазон контроля температуры патрона
нет
Быстрое вытаскивание патрона
нет
Спецификация валика
U-образный стол, в наличии 10 микропозиционеров
Диапазон перемещения микроскопа
XY: 2" * 2", Z: 50,8 мм
Увеличение микроскопа
20 ~ 4000X
Операция переключения объектива микроскопа
Быстрый наклон
Электропитание
50/60 Гц, АС 220 В

Документы и файлы

Опции

Модель серии FA
Спецификация
 
Модель FA-8 FA-8-SC
Габариты Д: 960 мм*Ш: 850 мм*В: 1500 мм Д: 880 мм*Ш: 860 мм*В: 1550 мм
Масса (около) 260 кг 280 кг
Энергопотребление 220 В, 50–60 Гц
Патрон Размер и угол поворота 8″, вращение на 360°
Диапазон перемещения XY 8″ * 8″
Разрешение при перемещении 1 мкм
Пример фиксированного режима Вакуумная адсорбция Вакуумная адсорбция
Диапазон контроля температуры — 80~200 ℃
Быстрое вытаскивание да
Электрический проект Поверхность патрона электрическая, плавающая, с

адаптером типа «банан», может использоваться в качестве заднего электрода.

Валик Спецификация U-образный стол, в наличии 10 микропозиционеров О-образный стол, в наличии 12 микропозиционеров
Режим перемещения и регулировки Платформу можно быстро поднимать и опускать на 6 мм с функцией автоматической блокировки. Платформу можно точно
настраивать вверх и вниз на 25 мм с точностью до 1 мкм.
Микроскоп Диапазон перемещения XY: 2″ * 2″, Z: 50,8 мм XY: 1 «* 1», Z: 50,8 мм
Разрешение 1 мкм
Увеличение 20 ~ 4000X
Операция переключения объектива Быстрый наклон Пневматический подъем
ПЗС-пиксели 50 Вт (аналоговый) / 200 Вт (цифровой) / 500 Вт (цифровой)
Лазер Длина волны Длина волны по выбору: 1064/532/355/266 нм
Выходная мощность 0~2,2 мДж/импульс
Возможности микрообработки Обрабатываемый материал: Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/поликремний/Mo/SiN/CF с внутренней примесью и т. д.
Точность Минимальный обрабатываемый размер — 1*1 мкм (при использовании линзы 100X).
Режим охлаждения Лазер с воздушным охлаждением или лазер с водяным охлаждением
Микропозиционер Диапазон движения XYZ 12мм-12мм-12мм / 8мм-8мм-8мм
Механическое разрешение 2 мкм/0,7 мкм/0,1 мкм
Точность утечки тока Коаксиальный 1 пА/В при 25 ℃; Три вала 100 фА/В при 25 ℃; Триаксиальный 10 пА при 3 кВ при 25°C,
Условия испытаний: сухая среда для заземляющего экрана (точка росы воздуха ниже — 40°С).
Кабельные соединители Головка типа «банан»/зажим «крокодил»/коаксиальный/триаксиальный
Дополнительные аксессуары Механизм быстрого выдвижения патрона
Обнаружение горячих точек с помощью жидкокристаллического корпуса
Комплект испытаний высокого напряжения/сильного тока
Горячий патрон
Защитная коробка
Специальный адаптер
Стол без вибрации
Позолоченный патрон
Коаксиальный/Триаксиальный патрон
Патрон Z для быстрого подъема и опускания и выбора точной регулировки.
Тест интенсивности света/длины волны
Принадлежности для радиочастотных испытаний
Активный зонд
Проверка низкого тока/емкости
Приспособление для проверки оптоволоконной муфты
Крепление комплектного тестового аксессуара для интегральных схем
Приспособление для тестирования печатной платы
Специальный индивидуальный дизайн
Приложения Анализ отказов IC/LCD/OLED в условиях изменяющейся температуры
Характеристика
Анализ отказов Удобная большая ручка. Отвертки: нулевой обратный зазор.
Обнаружение горячих точек чипа с помощью жидких кристаллов Внутренняя цепь/электрод/зонд PAD
Лазерная резка, абляция и выборочное удаление Характеристики радиочастотных устройств
Применимо для модификации/

ремонта внутренней линии панели IC/LCD.

Испытание характеристик IV/CV и анализ отказов материалов/устройств
Тестирование пластин размером до 12 дюймов Минимальный размер лазерной обработки 1*1 мкм
Вектор Стар Выбор оборудования
Нужна помощь в выборе?
Оставьте заявку и наш менеджер свяжется с вами