Ручная зондовая станция серии Semishare FA-8 для анализа отказов
- Производитель
- Semishare
- Страна
- Китай
- Габариты
- Д: 960 мм*Ш: 850 мм*В: 1500 мм
- Масса (около)
- 260 кг
Ручные зондовые станции серии SEMISHARE FA-8 представляют собой разновидность измерительного
оборудования, специально разработанного для анализа отказов интегральных микросхем в условиях
лаборатории.
Анализ на отказ можно производить как при комнатной температуре, так и при высоких или низких
температурах исследуемого радиочастотного устройства. Также доступно исследование отказов различных
материалов и проводить измерение характеристик IV/CV устройств.
Зондовые станции серии SEMISHARE FA-8 обладают превосходной механической системой, стабильной
конструкцией, эргономичностью и имеют возможности для модернизации.
SEMISHARE FA-8 может быть широко использовано в области производства для исследований интегральных
микросхем, светодиодов, жидкокристаллических дисплеев, солнечных элементов, различных чипов и в
других отраслях радиоэлектронной промышленности.
Т.о. многофункциональная ручная зондовая станция SEMISHARE FA-8 удовлетворит потребностям самых
требовательных клиентов в сфере анализа изделий на отказ.
Область применений
Применение в соответствии с тестируемыми образцами:
Анализ отказов IC в условиях изменяющейся температуры
Анализ отказов LCD в условиях изменяющейся температуры
Анализ отказов OLED в условиях изменяющейся температуры
Использование в зависимости от области применения:
Внутренние цепи интегральных микросхем
Тестирование PAD интегральных микросхем
Модификация внутренних цепей
Удаление слоя
- Производитель
- Semishare
- Торговая марка
- SEMISHARE
- Модель
- FA-8
- Диапазон контроля температуры патрона
- нет
- Быстрое вытаскивание патрона
- нет
- Спецификация валика
- U-образный стол, в наличии 10 микропозиционеров
- Диапазон перемещения микроскопа
- XY: 2" * 2", Z: 50,8 мм
- Увеличение микроскопа
- 20 ~ 4000X
- Операция переключения объектива микроскопа
- Быстрый наклон
- Электропитание
- 50/60 Гц, АС 220 В
Документы и файлы
Опции
| Модель серии FA | |||
| Спецификация | |||
| Модель | FA-8 | FA-8-SC | |
| Габариты | Д: 960 мм*Ш: 850 мм*В: 1500 мм | Д: 880 мм*Ш: 860 мм*В: 1550 мм | |
| Масса (около) | 260 кг | 280 кг | |
| Энергопотребление | 220 В, 50–60 Гц | ||
| Патрон | Размер и угол поворота | 8″, вращение на 360° | |
| Диапазон перемещения XY | 8″ * 8″ | ||
| Разрешение при перемещении | 1 мкм | ||
| Пример фиксированного режима | Вакуумная адсорбция | Вакуумная адсорбция | |
| Диапазон контроля температуры | — | — 80~200 ℃ | |
| Быстрое вытаскивание | — | да | |
| Электрический проект | Поверхность патрона электрическая, плавающая, с
адаптером типа «банан», может использоваться в качестве заднего электрода. |
||
| Валик | Спецификация | U-образный стол, в наличии 10 микропозиционеров | О-образный стол, в наличии 12 микропозиционеров |
| Режим перемещения и регулировки | Платформу можно быстро поднимать и опускать на 6 мм с функцией автоматической блокировки. Платформу можно точно | ||
| настраивать вверх и вниз на 25 мм с точностью до 1 мкм. | |||
| Микроскоп | Диапазон перемещения | XY: 2″ * 2″, Z: 50,8 мм | XY: 1 «* 1», Z: 50,8 мм |
| Разрешение | 1 мкм | ||
| Увеличение | 20 ~ 4000X | ||
| Операция переключения объектива | Быстрый наклон | Пневматический подъем | |
| ПЗС-пиксели | 50 Вт (аналоговый) / 200 Вт (цифровой) / 500 Вт (цифровой) | ||
| Лазер | Длина волны | Длина волны по выбору: 1064/532/355/266 нм | |
| Выходная мощность | 0~2,2 мДж/импульс | ||
| Возможности микрообработки | Обрабатываемый материал: Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/поликремний/Mo/SiN/CF с внутренней примесью и т. д. | ||
| Точность | Минимальный обрабатываемый размер — 1*1 мкм (при использовании линзы 100X). | ||
| Режим охлаждения | Лазер с воздушным охлаждением или лазер с водяным охлаждением | ||
| Микропозиционер | Диапазон движения XYZ | 12мм-12мм-12мм / 8мм-8мм-8мм | |
| Механическое разрешение | 2 мкм/0,7 мкм/0,1 мкм | ||
| Точность утечки тока | Коаксиальный 1 пА/В при 25 ℃; Три вала 100 фА/В при 25 ℃; Триаксиальный 10 пА при 3 кВ при 25°C, | ||
| Условия испытаний: сухая среда для заземляющего экрана (точка росы воздуха ниже — 40°С). | |||
| Кабельные соединители | Головка типа «банан»/зажим «крокодил»/коаксиальный/триаксиальный | ||
| Дополнительные аксессуары | Механизм быстрого выдвижения патрона | ||
| Обнаружение горячих точек с помощью жидкокристаллического корпуса | |||
| Комплект испытаний высокого напряжения/сильного тока | |||
| Горячий патрон | |||
| Защитная коробка | |||
| Специальный адаптер | |||
| Стол без вибрации | |||
| Позолоченный патрон | |||
| Коаксиальный/Триаксиальный патрон | |||
| Патрон Z для быстрого подъема и опускания и выбора точной регулировки. | |||
| Тест интенсивности света/длины волны | |||
| Принадлежности для радиочастотных испытаний | |||
| Активный зонд | |||
| Проверка низкого тока/емкости | |||
| Приспособление для проверки оптоволоконной муфты | |||
| Крепление комплектного тестового аксессуара для интегральных схем | |||
| Приспособление для тестирования печатной платы | |||
| Специальный индивидуальный дизайн | |||
| Приложения | Анализ отказов IC/LCD/OLED в условиях изменяющейся температуры | ||
| Характеристика | |||
| Анализ отказов | Удобная большая ручка. Отвертки: нулевой обратный зазор. | ||
| Обнаружение горячих точек чипа с помощью жидких кристаллов | Внутренняя цепь/электрод/зонд PAD | ||
| Лазерная резка, абляция и выборочное удаление | Характеристики радиочастотных устройств | ||
| Применимо для модификации/
ремонта внутренней линии панели IC/LCD. |
Испытание характеристик IV/CV и анализ отказов материалов/устройств | ||
| Тестирование пластин размером до 12 дюймов | Минимальный размер лазерной обработки 1*1 мкм | ||
Нужна помощь в выборе?
Оставьте заявку и наш менеджер свяжется с вами