Ручная зондовая станция серии C12 для работы при высоких и низких температурах

По запросу
Производитель
Semishare
Страна
Китай
Рабочая область
Высокая и низкая температура окружающей среды
Габаритные размеры
C12 (1400мм х 920 мм х 920мм)
Масса
около 250 кг
Все характеристики
Ручные зондовые станции серии SEMISHARE C12 успешно применяются как на производстве, так и при
научных исследованиях с обеспечением высоких и низких температур для тестирования следующих типов
изделий: интегральные микросхемы, светодиоды, ЖК-дисплеи, солнечные элементы, полупроводниковые
материалы и др.
Оборудование обеспечивает проведение испытаний в диапазоне температур от -60 °C до 300°C.
Доступны следующие виды тестирования IС, LD, LED, PD, а также тестирование печатных плат и
радиочастотное тестирование.
Отдельно отметим, что зондовые станции SEMISHARE C12 обеспечивают среду измерений без
электромагнитных (EMI) и радиочастотных (RFI) помех, а также высокую светонепроницаемость за счет
дополнительного конструктива защитной камеры.
Т.о. SEMISHARE C12 — это комплексная многофункциональная ручная зондовая станция, которую можно
настроить по индивидуальным потребностям. Оборудование способно удовлетворить потребностям самых
требовательных клиентов.
Область применений
Применение в соответствии с тестируемыми образцами:
Тестирование IС
Тестирование LD
Тестирование LED
Тестирование PD
и др.
Использование в зависимости от области применения:
Радиочастотное (RF) тестирование
Тестирование печатных плат (PCB)
и др.
Производитель
Semishare
Торговая марка
SEMISHARE
Модель
C12
Диапазон температур
от -60 до +300 ℃
XY Диапазон перемещения патрона
12" * 12"
Размер и угол поворота патрона
12", вращение на 360°
О-образная плита валика
Доступно 12 микропозиционеров
Электропитание
50/60 Гц, АС 220 В

Опции

Серия С
Спецификация
 
Модель С6 С8 С12
Измерение Д: 860 мм* Д: 880 мм* Д: 1400 мм*
Ш: 850 мм* Ш: 860 мм* Ш: 920 мм*
В: 700 мм В: 750 мм В: 920 мм
Вес (около) 150 кг 170 кг 250 кг
Энергопотребление 220 В, 50–60 Гц
Патрон (Chuck) Размер и угол поворота 6″, вращение на 360° 8″, вращение на 360° 12″, вращение на 360°
XY Диапазон перемещения 6 дюймов * 6 дюймов 8 дюймов * 8 дюймов 12 дюймов * 12 дюймов
Перемещение разрешения 1 мкм
Обмен образцами Механизм быстрого выдвижения патрона для смены образцов
Пример фиксированного режима Вакуумная адсорбция
Электрический проект Поверхность патрона электрическая, плавающая, с адаптером типа «банан», может использоваться в качестве заднего электрода.
Валик (Platen) О-образная плита Доступно 8 микропозиционеров Доступно 10 микропозиционеров Доступно 12 микропозиционеров
Диапазон перемещения и регулировка Плиту можно быстро поднять и опустить на 6 мм с функцией автоматической блокировки.
Валик можно точно настроить вверх и вниз на 25 мм с разрешением 1 мкм.
Температурная характеристика Диапазон температур — 100 ~ 300 ℃ — 80 ~ 300 ℃ — 60 ~ 300 ℃
Точность температуры Разрешение 0,01°C
метод нагрева Низкое напряжение постоянного тока (LVDC)    
Минимальная скорость контроля температуры ± 0,1°С/час
Хладагент Жидкий азот или холодильный компрессор
Микроскоп Диапазон перемещения Ось XY: 2 «* 2», ось Z: 50,8 мм
Переключение режима объектива Наклон микроскопа на 30° вручную с помощью рычага
Увеличение 16~100X/20~4000X
Спецификация объектива Окуляр: 10X; Объектив: 5X, 10X, 20X, 50X , 100X ( опция )
ПЗС-пиксели 50 Вт (аналоговый) / 200 Вт (цифровой) / 500 Вт (цифровой)
Микропозиционер Диапазон перемещения XYZ 12мм-12мм-12мм / 8мм-8мм-8мм
Механическое разрешение 10 мкм/2 мкм/0,7 мкм/0,1 мкм
Точность утечки тока Коаксиальный 1 пА/В при 25°C; Трехосный, 100 фА/В при 25°C; Триаксиальный 10 пА при 3 кВ при 25°C.
Условия испытаний: сухая среда с заземлением (точка росы воздуха ниже -40°C).
Кабельные соединители Головка типа «банан»/зажим «крокодил»/коаксиальный/триаксиальный/SMA/K
Приложение IC/LD/LED/PD-тест, PCB/Packaged IC-тест, RF-тест при высокой и низкой температуре
Дополнительные аксессуары Зажим для зонда
Темное поле микроскопа / ДИК / Тестирование Нормарского на интенсивность света / тестирование длины волны
Радиочастотное тестирование
Испытание высоким напряжением и сильным током
Защитная коробка
Специальный адаптер
Стол без вибрации
Позолоченный патрон
Коаксиальный/Триаксиальный патрон
Тест интенсивности света/спектра/длины волны
Активный зонд
Проверка низкого тока/емкости
Взаимосвязь интегральной сферы
Приспособление для проверки корпусной ИС
Приспособление для проверки печатной платы
Специальный индивидуальный дизайн
Характеристики
Испытание при низкой температуре в невакуумной среде Удобная большая ручка. Отвертки: нулевой обратный зазор.
Совместим с металлографическим микроскопом с большим увеличением. Внутренняя цепь/электрод/зонд PAD 0,2 мкм или выше
Подходит для университетов и исследовательских лабораторий. LD/LED/PD тестирование интенсивности света/длины волны
Тестирование пластин размером до 12 дюймов IV/CV Характеристические испытания материалов/устройств
Высокоточная конструкция привода ходового винта, линейное движение Тестирование высокочастотных характеристик устройств (до 300 ГГц)
Вектор Стар Выбор оборудования
Нужна помощь в выборе?
Оставьте заявку и наш менеджер свяжется с вами